X線反射率法で薄膜界面のラフネスや密度傾斜を評価する



◆本図表を掲載しているATOMICAデータを参照するには下記をクリックして下さい。

X線反射率法で薄膜界面のラフネスや密度傾斜を評価する (08-04-01-33)


JAEA JAEAトップページへ ATOMICA ATOMICAトップページへ